1. 電源:交流220v±10%,50hz,功耗≤20w,工作環(huán)境溫度0-40℃,工作環(huán)境濕度≤RH90%;
2. 絕緣電阻≥2mΩ,耐壓絕緣度>1500v;
3. 效率穩(wěn)定性:24小時(shí)探測效率變化α<2%、β<3%;
4. 儀器對(duì)于90Sr-90Yβ源2π探測效率≥55%時(shí),本底≤0.1cm-2·min-1;
5. 儀器對(duì)于239Puα源的2π效率≥80%時(shí),本底≤0.002cm-2·min-1;
6. α/β交叉性能:α進(jìn)入β道≤1%,β進(jìn)入α道≤0.1%;
7. 本底穩(wěn)定性:在1000min的測量時(shí)間內(nèi),本底計(jì)數(shù)率變化應(yīng)在 ( 平均計(jì)數(shù)±3σ)的范圍內(nèi),其中σ為本底計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)誤差;
8. 高壓調(diào)節(jié)范圍:0-1200V,穩(wěn)定度優(yōu)于0.5%,高壓及閾值均采用數(shù)控調(diào)節(jié);
9. 主探測器采用ZnS(Ag+)和p-Terophenyl經(jīng)熱壓成型為雙閃爍體及低噪聲光電倍增管組成,閃爍體性能穩(wěn)定可靠,表面可擦洗,易清潔、抗老化、抗污染、抗腐蝕易更換;
10.采用電子學(xué)反符合屏蔽技術(shù),反符合探測器采用平板型塑料閃爍體與低噪聲光電倍增管組成,反符合效率大于99%;
11.采用超高速(響應(yīng)時(shí)間小于7納秒)窗口比較多道核脈沖峰值甄別器;
12.采用程控高壓、閾值調(diào)節(jié),通過α/β測量軟件由計(jì)算機(jī)控制主探測器和反符合探測器高壓、閾值調(diào)節(jié),非機(jī)械旋鈕控制
13.低本底鉛合金屏蔽室屏蔽外界射線干擾,α/β測量儀鉛屏蔽室結(jié)構(gòu)設(shè)置合理,使用靈活;
14.采用主機(jī)非易失記憶體存儲(chǔ)儀器工作參數(shù)(高壓、閾值等),無需開機(jī)設(shè)置工作參數(shù),避免因用戶計(jì)算機(jī)故障或是更新計(jì)算機(jī)等操作而丟失運(yùn)行參數(shù);
15.多種主機(jī)連接模式可選:采用USB2.0全速模式標(biāo)準(zhǔn)USB連接(免驅(qū)動(dòng)HID模式 USB2.0非串口轉(zhuǎn)接),和TCP/IP網(wǎng)絡(luò)連接。TCP/IP可選用有線或無線(2.4G/5G Wifi)模式;
16.分析軟件系統(tǒng)能支持接入實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)。
17.PAB-6000操作系統(tǒng)采用Visual C++開發(fā),標(biāo)準(zhǔn)多文檔應(yīng)用程序模式,純中文界面,自動(dòng)化程度高,可配任意型號(hào)的計(jì)算機(jī),操作過程有中文提示,可自動(dòng)完成測量、分析、顯示并打印結(jié)果;
18.一次可同時(shí)或分別測量一個(gè)或多個(gè)樣品,同時(shí)或分別給出一個(gè)或多個(gè)樣品中的總α,總β活度濃度,多通道獨(dú)立異步送樣,異步運(yùn)行、測量、計(jì)算、輸出;
19.可生成可預(yù)覽打印報(bào)告,直接打印或是生成包括但不限于Excel、PDF、Word、TXT等形式的數(shù)據(jù)報(bào)告。
20.可配備機(jī)器人自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)。全電模式4軸或以上機(jī)器人,可實(shí)現(xiàn)每一個(gè)樣的獨(dú)立進(jìn)樣取樣,樣品重復(fù)定位精度小于0.1mm;
21.全電式自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)(不需要額外氣源等),機(jī)械夾持,即使意外斷電樣品亦不會(huì)掉落;
22.自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)配套可編程任務(wù)系統(tǒng),可編程任務(wù)系統(tǒng)包含但不限于:測量時(shí)間、測量周期、使用通道、樣品放置點(diǎn)位、樣品名稱、樣品編號(hào)。每一個(gè)樣品獨(dú)立編程,進(jìn)樣系統(tǒng)可根據(jù)任務(wù)計(jì)劃完成每一個(gè)樣品的加載、卸載、測量、保存、分析工作,并順序完成所有任務(wù)計(jì)劃;
23.采用隱藏式低重心移動(dòng)輪組。美觀、低重心,保持穩(wěn)定可靠,設(shè)備底面離地間隙不大于5cm;
注①根據(jù)JJG853-2013《低本底α/β測量儀》要求,為避免用“效率比”參數(shù)表述低本底α/β測量儀計(jì)量性能中存在的不規(guī)范和弄虛作假問題,對(duì)低本底α/β測量儀計(jì)量性能用“探測效率”取代原標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)程中的“探測效率比”這一方法。本公司所有參數(shù)表中用新的表述方法,敬請(qǐng)廣大用戶悉知。
注②上述所有參數(shù)均為基本參數(shù),當(dāng)有合同、投標(biāo)文件等承諾更優(yōu)參數(shù)、質(zhì)保期要求時(shí),以合同或投標(biāo)文件等為準(zhǔn)。